SmartFIB是一种用于聚焦离子束(FIB)操作的ZEISS Crossbeam仪器的新用户界面。本文概述了用户界面及其一些功能。SmartSEM是ZEISS扫描电子显微镜(sem)的操作软件,与ZEISS FIB-SEM仪器兼容。SmartFIB是该操作软件的扩展,以直观、简单的方式支持FIB-SEM的所有工作流程。
介绍
蔡司推出了两款新产品FIB-SEM系统2013年8月底。这些仪器被称为ZEISS Crossbeam 340和540,集成了一些关键的技术进步,包括使用最新电子设备的完全翻新的系统平台,完全重新设计的FIB用户界面(UI),以及高吞吐量100 nA Ga+ FIB列。
如上所述,FIB UI是用于在Zeiss Crossbeam系统中用于FIB控制的SmartSem的扩展。因此,此接口仅在FIB-SEM系统上变为可操作且活动。在下一节中,它将被称为SmartFib,便于方便。本文介绍了SmartFib的关键功能以及它如何使用户日常斐波姆活动活动。
讨论了地区
- 铣削策略
- 实时成像
- FIB啪嗒啪嗒
- 先进的推动控制
- 自动样品准备
- 样本模式
- 连续切片成像
- Smart FIB接口
本文简要介绍了SmartFIB用户界面。使用SmartFIB,可以定制灵活的铣削策略,在几乎任何可能的模式下获得最优的结果。精密的微调控制和实时铣削的结合,使用户可以在铣削过程中进行干预和交互。用户可以根据简化的三步工作流程轻松设置TEM样品和截面,用于自动制备。另外,SmartFIB的抽样方式有助于暴露长时间无人值守的布局批量。串行切片成像是FIB-SEM的另一种独特的自动化工作流程,可从VOI提供最大数量的数据。
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