从交通事故车辆获取的涂片含有解决刑事案件的重要证据亚博网站下载画迹可以从车辆转移至其他材料或表面,如受害人的衣服微量可匹配类型车辆使用IR分析
亚博网站下载油漆迹从车辆移到其他表面或材料,如受害者服装,这些迹迹可匹配车辆油漆类型亚博网站下载这一点是可以实现的,因为画芯片由多层材料组成,多层涂料由多层涂层组成。
每一层组合对单个制造厂家和颜色、模型和特定飞行器年份有区别法证涂料调查中的油漆样本通过标准红外线谱技术测量,并受ASTM方法E2937-13指导
微小涂料样本按几微米大小排序,可用红外显微镜测量,对每一层记录光谱文章探索各种采样模式应用和PortlightTM200i显微镜系统自动化特征分析从路难现场提取的汽车油漆芯片样本
传输减总反射和镜射反射是红外光谱学三大采样技术所有三种采样技术都可应用到IR显微镜微采样和标准IR配件将所有这些技术应用到画芯片样本中,并在此描述每种技术的优缺点
反射
采样剖面直接反射量度镜像反射反射采样模式只涉及最小采样准备,因为样本安全定位在IR显微镜级上并使用小夹片装置图1显示通过反射获取样本的可见图像,多层显示
图1可见图像剖面IR显微镜画芯片样本
样本准备和光谱数据采集很容易,反射技术不是最优方法,因为峰值移位和反射索引变化导致反射光谱中出现偏差结果是反射光谱无法与记录传输所得引用光谱相比
从本样本层获取反射光谱表示油漆样本典型反射频谱,如图2所示金镜引用记录背景频谱
图2画层特征反射光谱
减总反射
ATR技术是一种面反射技术,IR辐射只渗透到样本中1-2m因此,即使是厚样本也可以使用这种技术测量,最小样本编译方式是简单剖析样本以显示层层
样本可用夹片设备安全嵌入显微镜,或嵌入树脂块并擦擦通过嵌入样本,支持得更好并消除ATR晶体应用压力上的任何偏差样本保留后按需重复测量图3显示嵌入树脂中用于ATR测量的涂片段
图3可见图像画芯片跨段嵌入树脂供ATR测量
点点200i系统安装自动下拉ATR晶体此项安排允许采样离散点测量线扫描或地图也可以从数据中收集替代方法使用ATR从片IR显微镜
使用这种方法,从属性上的晶片绑住覆盖全样本,消除移动晶片的需要此项安排使空间分辨率提高并允许测量稀疏层图4显示用宏ATR从子跨画芯片测量线性数据
图4ATR线性数据画芯片
图5显示从不同层获取的光谱
图5spectra从ATR实验的不同层获取
ATR频谱比视觉反射频谱多益多,因为它相似等效传输频谱ATR校正处理程序旨在纠正ATR和波长依赖传输光谱之间的强度差这样的校正便于对ATR光谱与大型库传输光谱数据库进行比较spectra图6比较ATR频谱
并用传输样本同层油漆展示光谱使用两种技术的等效性
图6ATR校正频谱(顶端)和传输频谱(底部)
传输
IR传输测量样本厚度应达10-20m以避免完全吸收波段发生画芯片样本需要微切为可接受厚度后再测量画片样本微调并置入钾溴化窗面,图7显示
图7微调画芯片样本显示在KBR窗口上供传输测量
为了收集光谱信息 所有层, 线性扫描设置测量频谱 5米间距遍及画芯片全宽线性数据显示为图8
图8传输线性数据画芯片样本
从线性数据可以看出样本中不同段显示不同光谱特征,每个段表示层从图9显示线性图中可导出这些层的频谱数据
图9显示这里传输频谱画芯片
所得传输数据可与标准库中的油漆和添加剂数据作比较,鉴别层
结论
从多层涂片中取值可使用IR显微镜技术有效实现采样技术选择取决于可用采样准备法和频谱所需信息镜像反射法非样编程技术显示层间光谱差获取光谱库无法直接连接传输频谱库
ATR还提供非样本准备解决方案,如果样本存放在显微镜采样阶段的夹片设备中嵌入法大为有利ATR中获取的光谱可与传输光谱和ATR校正后数据库相关使用宏ATR辅助空间分辨率提高,使测量薄层成为可能
传输是最优先测量油漆样本的方法,因为光谱数据可直接比对现有的引用光谱数据库和频谱数据库与反射光谱和ATR光谱不同,传输测量不显示偏差或需要数学校正然而,这一测量要求样本不厚于15至20微米,从而要求对样本作一定层次的取样编程进行微调
亚博网站下载这些信息取自PerkinElmer提供的材料并经过审查修改
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