分析接触镜头样本元素化学组成

隐形镜可用性在很大程度上取决于它的设计接触镜需要安全方便,因为他们与眼睛密切接触,人们可能长时间使用它。

使用不同类型的表层处理提高接触镜面性能,使其有更好的水益表面,并有改良抓取和沉积阻抗因此,关键是要描述隐形镜面,以便优化设计

图1接触镜片

隐形镜面的元素和化学组成可用X射线光谱分析跨子化学和有用涂层数据,如涂层的厚度和一致性,也可以用XPS获取

与自动化处理相联时,可使用XPS分析各种镜片包厚度文章讨论分析一组隐形透镜样本,使用单片确定其元素组成和化学组成热科学K-AphaXPS图2

图2热科学K-AphaXPS

实验和结果

实验使用K-AlphaXPS分析一组隐形透镜样本在K-Alpha简单统包收费补偿系统帮助下,分析条件保持稳定图3显示勘测扫描镜片

透镜表面元素组成可量化特征宽扫描频谱,窄扫描区域频谱有助于调查透镜表面化学组成

图3检测双隐形

这些数据可识别污染源或确认镜头上应用处理或添加物的成功图4描述透镜表面确定的碳化学状态图5显示深度隐形镜

低能agon离子用于隐形透视剖析,涂层加灰通过保持样本化学完整性,其化学变化视深度函数观察K-Alpha低能离子束维护聚合化学

图4隐形透镜表面检测到的碳化学状态

图5深度透镜使用200eVagon离子涂层灰色显示

实验食谱批处理

k-Alpha帮助数位用户使用开发高超实验配方能力特别有助于多次分析大套样本以获取相同信息选择所需配方并定义样本分析位置是用户需要采取的行动

通过处理获取数据过程可高效使用Avenage数据系统,通过系统可将一系列分析导出电子表格和批处理样本集图6和图7展示实验配方实例,显示自动处理后输出

图6实验配方批处理实例

图7批处理出一组隐形镜

结论

K-Alpha配有Avenage数据系统对大样隐形镜进行例常定性以确定表面元素和化学组成的能力外层组成和一致性可以通过深度剖析来确定

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