亚博网站下载光谱分析主要类型之一是薄膜与自食其力的薄片不同 超薄片沉入基底超薄膜可以像单层薄片一样薄
在某些情况下薄膜自然生长在特定基底上,包括铝氧化膜光谱分析可影响选择适合底片的能力胶片可存放在透明基质上,如钙氟化物,这样调查就可以使用传输光谱进行
取而代之的是,为通过反射光谱分析,某些胶片可沉入金金或白金等金属上钻石、二氧化、二环化、二环化、硅和玻璃是其他一些常用子块
光谱方法敏感度比较,如草角反射、草角Ge-ATR传播基于传输结果测量了另外两种技术的相对敏感度
实验程序
基于别处所展示的理论考量,进行了模拟表1显示子串和样本使用参数模拟工作使用10m极化光
表格中的折射指数为波长采样和金属使用不同的索引集时结果可能不尽相同性质消化薄膜厚度曲线可能不变
表1亚博网站下载反射模拟所用材料索引
| 素材类 |
10m反射索引 |
| 电影院 |
140+0.11i |
| 硅 |
3.42 |
| 金属类 |
10+20i |
执行传输模拟时,薄膜被视为自主性,事件辐射按正常率(0摄氏度)撞击样本面向牧场角ATR中基底可以是Si或Metic
折余指数Ge被认为是4.0检测出两个事件角:65摄氏度高于实验临界角,提供FTIR光谱仪典型波束传播,60摄氏度略高于Si-Ge界面理论临界角
上头牧场角视觉模拟使用金属基底支持胶片报告了两种不同事件角的结果:75度和80度,提供商业敏度反射配件
结果与讨论
图1显示三种方法的吸附度对薄厚度薄膜厚度和吸收度之间的线性关系按预期传输最大吸附度在厚度超过0.5m时实现
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图1Absorbance对数薄膜厚度三种技术红色正常事件传输薄膜,蓝曲线取片角ATRx60摄氏度和65摄氏度基底,黑曲线取同片角反射75摄氏度和80摄氏度
反射技术比超薄膜传输敏感斜角反射法 使用于分析超深片
然而,有一种错误理解,即敏感度随着事件角的增加而提高。图1显示超薄膜高吸附度80度角复用量,但几乎没有
曲线逆向高吸附度由75度角事件实现,薄膜厚度提高至约1000结合概念和实际困难提供高波束分布样本80度事件角后,似可选用75度角事件角偏向敏锐反射光谱分析必须指出,使用斜角反射技术反射
草角Ge-ATR对传播大有裨益距离临界角近角吸收力强因此,60度角事件比65度角事件增加50%
光谱仪波束扩展生成的可能光谱人工品需要权衡这一增益高射线分量事件波段将低于临界角时事件角接近临界角
胶片厚度和吸附性之间的线性关系无法在反射技术中都观察到解释实验结果时应小心比方说 薄膜可高吸附
从两片不同厚度中可获取同类吸收频谱厚度比吸附关系线性薄膜约200因此,牧场角ATR技术从敏感度上讲可能有利
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