Via共构拉曼显微镜分析

图形化特性大全并难处理

雷尼肖插件拉曼显微镜是一种理想工具研究石墨,无论是大片或小离散片片面形式,它很容易产生可靠快速结果。

Renishaw Via封装拉曼显微镜

inVia是一个极敏感工具,空间光谱分辨率高,适合石墨测量亚博网站下载显微镜可辨别不同的光谱特征并用这些特征区分石墨与其他材料,包括不同形式的碳还可以识别并量化菌株,检测石墨结构中的损耗和混乱

图1Renishaw Via组合拉曼显微镜

工具还可用于测量热传导性、用量水平和图3电特性,并可确定图2和图3显示的图层数

图2raman图像表示数图层-单橙色双黄三分钟内获取数据

图3raman图像图形片段显示G波段峰值红色区域对应压缩应力

图形分析使用Via

雷尼肖市可与扫描探测显微镜整合,如原子力显微镜,以分析纳米级石墨Via化学分析能力可加入SPM/AFM获取的属性资料和高空间分辨率地形

高敏感度快速映射技术,如流线TM、流路HRTM和SlalomTM等,可快速易解大片分析由于其高光学效率,可使用低激光功率,从而避免石墨样本在分析期间受损。图4和图5显示光学图像与二分钟内InVia confcal Raman显微镜获取的地图数据比较

图4光学显微镜图片 硅片覆盖离散石墨片唯一清晰可见特征是图像右侧较轻区域内含多层图案 研究者对此兴趣微乎其微图像中不清楚石墨是否位于高亮矩形区域

图5raman高亮面积图像显示它含有单层图象

inVia特征

关键特征inVia即:

• 可排队测量以确保高效工具使用
• 灵活切换高标准组合成像
• 研究级拉曼显微镜
• 流线成像技术确保高速映射
• 流线成像用SlalomTM提供样本综合概述
• 高联动流HRTM图像检验小细节
• 自定义解决方案可开发满足特殊需求

结论

Renishaw开发了拉曼系统,拥有庞大研究能力,高光学效率和产品质量

顶层灵活度、可靠性和敏感度遍及各种应用,InVia可定制适应与石墨分析相关不同需求

亚博网站下载这些信息取自Renishaw-Raman光谱拷贝提供的材料并经过审查修改

详情请访问Renishaw-raman光谱