本文讨论了在非铝金属和合金中寻找最好的CD464探测器的比较研究结果。结果表明,PIN探测器和SDD探测器均适用于几种常见的非铝金属和合金的测定。然而,在这种应用中,PIN检测器的成本更低,操作更完美,使它比SDD检测器更可取。
PIN和SDD探测器的比较
表1中概述了典型SDD和引脚检测器的比较。典型的SDD检测器的性能优于引脚检测器。除了具有更好的最终能量分辨率之外,SDD检测器还具有更多的检测区域。此外,与PIN探测器相比,SDD检测器具有更快的峰值时间,在更快的峰值时间下具有更高的FE55 FWHM分辨率,从而产生大致3倍的计数率。该分辨率对于从各种元素确定X射线事件时至关重要,同时计数在更少的时间内获得更好的统计数据至关重要。
表格1.简单比较典型的SDD和PIN探测器。
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检测区域 |
Fe.55.决议 |
检测器内部温度。 |
上输入计数率(ICR)限制 |
价格 |
典型的SDD. |
10 - 50mm.2 |
120 - 160EV. |
-20到-40°C |
〜500kcps. |
更昂贵的 |
典型的别针 |
5 - 15毫米2 |
150 - 220ev. |
-20到-40°C |
〜100kcps. |
更便宜 |
典型的引脚检测器不太昂贵,并且通常用于价格敏感系统,例如XRF。PIN探测器适用于多种XRF应用,包括金属和合金测定,不需要SDD检测器提供的性能优势。
实验装置
图1显示了在本实验中使用的标准XRF设置,涉及使用Moxtek的50kV,4瓦4瓦的X射线源和250μm铍窗口的使用。源位于15-20μA,50kV。源和样品之间的距离为25mm,将70μm铜过滤器置于源前面。对于每个检测器,样品和检测器之间的距离为25mm。
图1。左侧是XRF设置的草图,概述最关键的部分。右侧是设置的图像的图像,可以看到包括准直器的所有组件。
Moxtek的MXDPP-50处理了检测器信号。X射线源和探测器在它们上有铝套管黄铜准直器。需要铝套以防止来自黄铜的杂散XRF信号,以确保XRF信号仅来自样品。铜滤波器消除了来自低于〜15KeV的源的大多数X射线,在该区域中提供更好的信噪比。然而,铜确实可以在〜8.3kV下允许一根钨Lα线。
通过钨Lα线改善镍和下Z元素的激发,其也产生了非XRF峰值。该峰值可能会混淆XRF算法的缺乏经验的操作员。来自清洁塑料样品的XRF光谱在图2中示出,显示康普顿散落的钨Lα线和康普顿散落来自源的Bremsstrahlung。
图2。从塑料样品中收集的光谱,其显示康普顿散落的背景从清洁的XRF样品。
实验程序
该实验涉及SDD,XPIN6和XPIN13检测器的比较它们的XRF性能,以确定非铝合金和金属。本实验中使用的每个探测器的关键技术规范总结在表2中。
表2..SDD,XPIN6和XPIN13检测器之间的功能比较
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探测器区域 |
Fe.55.应用解决方案 |
海军黄铜光谱计数在30秒内 |
死的时间 |
DPP达到峰值时间 |
管电流 |
探测器温度 |
SDD. |
20mm.2 |
150ev. |
487K. |
38% |
8米 |
20μA. |
-45°C. |
XPIN6. |
6mm.2 |
165EV. |
148K. |
21% |
20μsec. |
20μA. |
-35°C |
XPIN13 |
13mm.2 |
200ev. |
205K. |
42% |
20μsec. |
20μA. |
-35°C |
对于该实验,将相同的设置施加到X射线管上。这导致探测器上的不同时间。正如预期的那样,与PIN探测器相比,SDD具有更好的技术性能。
实验结果
海军黄铜由<0.1%的Fe, 59-62%的Cu, 39%的Zn, 0.5-1.0%的Sn和<0.2%的Pb组成。每个探测器记录来自海军黄铜源的XRF频谱30秒。图3描述了来自SDD、XPIN6和XPIN13的完整光谱,揭示了所有主要元素。5 ~ 11keV区域的光谱数据如图4所示。
图3。XRF光谱从海军黄铜样品中收集,超过30秒,所有标记的主要峰。y计数轴处于日志比例。
图4。在图3中收集的相同的XRF光谱,线性Y级和能量范围为5至11KeV。
可以看出,所有元素的Kα线的分离都很好地定义了清楚的识别。zn k之间存在区别α和Cu K.ß.对于SDD和PIN6。在Xpin13的情况下,在Xpin13的情况下,不会在Xpin13的情况下观察到明确的区别。然而,估计的元素浓度不受该线模糊的影响,显示出Xpin13的正常功能。
从海军黄铜CD464样品中获得的光谱通过XRF基本参数(FP)程序将其转换为元素浓度。当在FP程序中适当配置时,每个检测器都提供了几乎相同的结果。表3列出了每个检测器产生的浓度。最后一列提供了每个光谱中确定的x射线事件的总数。
表3.由3个比较探测器的所得浓度使用30秒和10秒扫描来自海军黄铜CD464样品。
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Fe. |
铜 |
Zn. |
桑 |
PB. |
光谱总数 |
列表黄铜CD464 |
< 0.1% |
59 - 62% |
B(39%) |
0.5-1.0% |
<0.2% |
|
SDD-30秒 |
0.18 |
58.4 |
40.1 |
0.78 |
0.07 |
487K. |
PIN6-30秒 |
0.20 |
58.8 |
39.6 |
0.99 |
0.05 |
148K. |
PIN13-30秒 |
0.16 |
58.3 |
40.1 |
1.10 |
0.05 |
205K. |
SDD-10秒 |
0.15 |
59.1. |
39.6 |
0.76 |
0.04 |
162K. |
PIN6-10秒 |
0.17 |
58.6 |
39.8. |
1.08 |
0.05 |
54 k |
PIN13-10交会 |
0.17 |
57.7 |
40.5 |
1.11 |
0.11 |
68 k |
每个探测器用于服用30秒和10秒的XRF扫描,然后比较。结果表明,所有探测器都能够在10秒内识别。对于金属和合金的副级元素识别,实际上不需要SDD的较高计数。使用FP例程,每个检测器为每个元素提供1%或更小的元素浓度。这种精度水平足以确定海军黄铜。
结论
结果清楚地表明,PIN探测器和SDD探测器在测定几种常见的非铝金属和合金方面同样有效。然而,对于这种应用,更低的成本和更完美的操作的PIN探测器使它成为一个更好的选择比SDD探测器。
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