使用SDD,XPIN6和XPIN13识别非铝金属/合金中的海军黄铜

本文讨论了在非铝金属和合金中寻找最好的CD464探测器的比较研究结果。结果表明,PIN探测器和SDD探测器均适用于几种常见的非铝金属和合金的测定。然而,在这种应用中,PIN检测器的成本更低,操作更完美,使它比SDD检测器更可取。

PIN和SDD探测器的比较

表1中概述了典型SDD和引脚检测器的比较。典型的SDD检测器的性能优于引脚检测器。除了具有更好的最终能量分辨率之外,SDD检测器还具有更多的检测区域。此外,与PIN探测器相比,SDD检测器具有更快的峰值时间,在更快的峰值时间下具有更高的FE55 FWHM分辨率,从而产生大致3倍的计数率。该分辨率对于从各种元素确定X射线事件时至关重要,同时计数在更少的时间内获得更好的统计数据至关重要。

表格1.简单比较典型的SDD和PIN探测器。

检测区域 Fe.55.决议 检测器内部温度。 上输入计数率(ICR)限制 价格
典型的SDD. 10 - 50mm.2 120 - 160EV. -20到-40°C 〜500kcps. 更昂贵的
典型的别针 5 - 15毫米2 150 - 220ev. -20到-40°C 〜100kcps. 更便宜

典型的引脚检测器不太昂贵,并且通常用于价格敏感系统,例如XRF。PIN探测器适用于多种XRF应用,包括金属和合金测定,不需要SDD检测器提供的性能优势。

实验装置

图1显示了在本实验中使用的标准XRF设置,涉及使用Moxtek的50kV,4瓦4瓦的X射线源和250μm铍窗口的使用。源位于15-20μA,50kV。源和样品之间的距离为25mm,将70μm铜过滤器置于源前面。对于每个检测器,样品和检测器之间的距离为25mm。

左侧是XRF设置的草图,概述最关键的部分。右侧是设置的图像的图像,可以看到包括准直器的所有组件。

图1。左侧是XRF设置的草图,概述最关键的部分。右侧是设置的图像的图像,可以看到包括准直器的所有组件。

Moxtek的MXDPP-50处理了检测器信号。X射线源和探测器在它们上有铝套管黄铜准直器。需要铝套以防止来自黄铜的杂散XRF信号,以确保XRF信号仅来自样品。铜滤波器消除了来自低于〜15KeV的源的大多数X射线,在该区域中提供更好的信噪比。然而,铜确实可以在〜8.3kV下允许一根钨Lα线。

通过钨Lα线改善镍和下Z元素的激发,其也产生了非XRF峰值。该峰值可能会混淆XRF算法的缺乏经验的操作员。来自清洁塑料样品的XRF光谱在图2中示出,显示康普顿散落的钨Lα线和康普顿散落来自源的Bremsstrahlung。

从塑料样品中收集的光谱,其显示康普顿散落的背景从清洁的XRF样品。

图2。从塑料样品中收集的光谱,其显示康普顿散落的背景从清洁的XRF样品。

实验程序

该实验涉及SDD,XPIN6和XPIN13检测器的比较它们的XRF性能,以确定非铝合金和金属。本实验中使用的每个探测器的关键技术规范总结在表2中。

表2..SDD,XPIN6和XPIN13检测器之间的功能比较

探测器区域 Fe.55.应用解决方案 海军黄铜光谱计数在30秒内 死的时间 DPP达到峰值时间 管电流 探测器温度
SDD. 20mm.2 150ev. 487K. 38% 8米 20μA. -45°C.
XPIN6. 6mm.2 165EV. 148K. 21% 20μsec. 20μA. -35°C
XPIN13 13mm.2 200ev. 205K. 42% 20μsec. 20μA. -35°C

对于该实验,将相同的设置施加到X射线管上。这导致探测器上的不同时间。正如预期的那样,与PIN探测器相比,SDD具有更好的技术性能。

实验结果

海军黄铜由<0.1%的Fe, 59-62%的Cu, 39%的Zn, 0.5-1.0%的Sn和<0.2%的Pb组成。每个探测器记录来自海军黄铜源的XRF频谱30秒。图3描述了来自SDD、XPIN6和XPIN13的完整光谱,揭示了所有主要元素。5 ~ 11keV区域的光谱数据如图4所示。

XRF光谱从海军黄铜样品中收集,超过30秒,所有标记的主要峰。y计数轴处于日志比例。

图3。XRF光谱从海军黄铜样品中收集,超过30秒,所有标记的主要峰。y计数轴处于日志比例。

在图3中收集的相同的XRF光谱,线性Y级和能量范围为5至11KeV。

图4。在图3中收集的相同的XRF光谱,线性Y级和能量范围为5至11KeV。

可以看出,所有元素的Kα线的分离都很好地定义了清楚的识别。zn k之间存在区别α和Cu K.ß.对于SDD和PIN6。在Xpin13的情况下,在Xpin13的情况下,不会在Xpin13的情况下观察到明确的区别。然而,估计的元素浓度不受该线模糊的影响,显示出Xpin13的正常功能。

从海军黄铜CD464样品中获得的光谱通过XRF基本参数(FP)程序将其转换为元素浓度。当在FP程序中适当配置时,每个检测器都提供了几乎相同的结果。表3列出了每个检测器产生的浓度。最后一列提供了每个光谱中确定的x射线事件的总数。

表3.由3个比较探测器的所得浓度使用30秒和10秒扫描来自海军黄铜CD464样品。

Fe. Zn. PB. 光谱总数
列表黄铜CD464 < 0.1% 59 - 62% B(39%) 0.5-1.0% <0.2%
SDD-30秒 0.18 58.4 40.1 0.78 0.07 487K.
PIN6-30秒 0.20 58.8 39.6 0.99 0.05 148K.
PIN13-30秒 0.16 58.3 40.1 1.10 0.05 205K.
SDD-10秒 0.15 59.1. 39.6 0.76 0.04 162K.
PIN6-10秒 0.17 58.6 39.8. 1.08 0.05 54 k
PIN13-10交会 0.17 57.7 40.5 1.11 0.11 68 k

每个探测器用于服用30秒和10秒的XRF扫描,然后比较。结果表明,所有探测器都能够在10秒内识别。对于金属和合金的副级元素识别,实际上不需要SDD的较高计数。使用FP例程,每个检测器为每个元素提供1%或更小的元素浓度。这种精度水平足以确定海军黄铜。

结论

结果清楚地表明,PIN探测器和SDD探测器在测定几种常见的非铝金属和合金方面同样有效。然而,对于这种应用,更低的成本和更完美的操作的PIN探测器使它成为一个更好的选择比SDD探测器。

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