使用MXDPP-50的x射线检测性能表征

Moxtek的目标是设计一种DPP用于其x射线探测器产品。为了实现这一目标，该公司在2013年发布了新的MXDPP-50电子产品，如图1所示的盒装和裸板OEM版本。

第二个目标是开发自动化测试，以完全表征其DPP和X射线探测器。基本测试方法是自动测试，通过该自动化测试，可以调查多个不同的Xpin和DPP设置。从其余的报告，在所有设置上的性能上获得了报告。这实现了快速，可靠和有意义的反馈，从而导致Moxtek了解其DPP在开发中的功能。该自动化测试可以快速测试其DPP和ORX射线PIN检测器，在标准峰值时间设置，约为15至30分钟。这种自动化测试铺平了广泛的测试方式，超过了数百个设置的数百个设置的超过16h，可以改变多个输入参数，例如输入计数率，达峰时间，检测器温度等。本文提出了表征方法和一些measurement details of the DPP with Moxtek’s XPIN^®探测器。

实验条件

图1显示了在此自动化测试中使用的基本硬件。诸如检测器的温度，峰值时间，检测器的高电压的属性由DPP控制。一份Fe.⁵⁵同位素源自动定位的线性阶段，以设置所需的探测器死时间(或探测器输入计数率)。硬件控制使用LabVIEW程序，在测量所需设置时自动化所有硬件。在获取每个光谱后，对光谱和探测器(如fe)的150多个独立变量进行了处理和记录⁵⁵FWHM的峰值(对于两个Fe⁵⁵K_α.& K_β)、铁⁵⁵通道位置，探测器内部温度，各种峰本比，探测器功率消耗，输入计数率(ICR)，输出计数率(OCR)，以及可能的其他变量。

图1所示。概述DPP和X射线检测器功能测试的基本硬件。

结果

自动化测试生成的最终报告将彼此进行多个输入参数进行比较。生成的信息远远大大。表1显示了在XPIN 6mm上收集的自动化测试中收集的信息的子集²-BT检测器的典型温度为-35℃，检测器死区时间为50%。在每个设置中提取5个光谱以建立统计相关的结果。

达到峰值时间（USEC）	2	4	5	8	16	20.
菲55应用(eV)	276.1	219.5	206.8	187.5	170.1	165.3
菲55FWHM标准偏差（EV）	0.12	0.19	0.17	0.19	0.3	0.36
(电子邮件保护)(比例)	3068.6	4521.8	5260.7	5629.2.	6151.6	6587.7
通道峰值位置	1209.2.	1229	1221.3.	1216.8	1206.5	1205.5

许多其他功能依赖项也很容易获得。例如，诸如FE之类的临界变量⁵⁵K_α.FWHM峰宽可以表示为探测器温度或探测器计数率的函数。

结论

数字脉冲处理器，MXDPP-50现在提供Moxtek完整的X射线能量分散探测器解决方案。Moxtek可以严格地测试MXDPP-50，其新的自动化测试程序套件，非常快速地提供了相当大的信息。该测试已经显示了MXDPP-50工作中心，并与单位一致地工作。

这些信息来源于Moxtek, Inc.提供的材料。亚博网站下载

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