Moxtek晶片尺度的铝纳米线制图能力用于开发宽带线栅偏光器(WGP)产品，适用于需要高对比度的中长波长红外光谱应用。这些WGP产品是在薄ar涂层硅衬底上开发的。Moxtek WGP的性能从SWIR到LWIR，与其他WGP产品相比有了显著的提高，特别是在阻挡和通过状态偏振器的透光率的对比度方面。
介绍
偏振器在红外光谱中可以用于表征金属和介电涂层，分析双折射材料，以及用于纹理和晶体薄膜的振动模式索引。亚博网站下载一个真正的偏振器有一个有限的对比度，这意味着一定数量的光与一个不必要的偏振状态被传输，这可能会影响测量精度。WGP由亚波长间距的金属线阵列组成，这些金属线主要由透明衬底支撑。与其他设计相比，WGP的优点包括紧凑的形状因子，增强了通过状态透光率，性能随入射角或波长变化最小，以及在高温和高亮度环境下的高稳定性。然而，为LWIR和MWIR应用而设计的WGP产品在通过和阻塞状态下的线偏振光传输之间的对比度很低，这是由于其相当大的线栅间距(通常≥370nm)。Moxtek开发了LWIR和MWIR偏振器，通过将典型IR WGP产品的间距大幅降低到144nm，大大提高了对比度。
实验条件
使用CARY 60 FTIR光谱仪和Nexus 870进行透射实验。WGP样品旋转相对于固定的预分析仪允许通过和阻塞状态下的透光率测量。两个对齐的Moxtek WGP的LWIR或MWIR以超过100µm的间隔组成预分析仪。验证仪器的准确性传输测量是通过开放和阻塞波束配置完成的。
结果
Moxtek的MWIR偏光片在3 ~ 5.5µm之间保持着优于35dB的对比度，在3.5 ~ 5.5µm之间传输状态优于通过状态。Moxtek LWIR偏振器在7 ~ 15µm之间传输的偏振状态通常优于68%，对比度超过38.5dB。144nm间距Moxtek产品的性能与另一家供应商的250nm间距WGP进行了比较，清楚地显示了对比度的显著提高。
结论
在红外光谱应用中，WGPs与其他设计相比有几个优点，但过去一直存在通过态和阻塞态的透射率对比差的问题。为了解决这些限制，Moxtek扩展了其铝纳米线®为中、长波长红外开发ar涂层硅衬底的制图能力。这些新产品提供了不同寻常的改进，同时保持卓越的效率通过状态透光率。
表1。在ar涂层硅上的Moxtek红外线栅偏光器和在溴化铊(KRS-5)衬底上的竞争产品的性能比较。
|
通过状态透光率[%] |
对比度 |
| 波长(µm] |
Moxtek MWIR生产总值 |
Moxtek LWIR生产总值 |
生产总值在KRS-5 |
Moxtek MWIR生产总值 |
Moxtek LWIR生产总值 |
生产总值在KRS-5 |
| 2．5 |
67 |
N/A |
71 |
2860 |
N/A |
47.3 |
| 5．0 |
97 |
N/A |
84 |
12100年 |
N/A |
168 |
| 10.0 |
N/A |
89 |
75 |
N/A |
11300年 |
326 |
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该信息的来源、审查和改编来自Moxtek, Inc.提供的材料。亚博网站下载
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