快速高效流频下降

快速高效收集采样荧光光谱使用时序单片计数法实现流频终生光谱分析目标从历史角度讲,TCSP被视为一种高度敏感法确定荧光生命周期,但往往需要较长时间获取数据这部分主要涉及源技术(重复率限制)和2%起始率限制

感想源技术的改善和复用率从kHz上升至数兆赫后,定时电子化死时变得意义重大。快速高效获取数据的能力表现为高重复率(达100MHz)DeltaDiode激光与低死时间数据获取电子设备、FluoroHub和DeltaHub相联

TCSP数据采集

语法表示法时序单片计数图1显示与时间分辨率相关的关键决定因素是光脉宽度和检测器传递时间分布定时电子系统也具有影响力,耗时影响数据采集过程的效率

图1TCSCC搭建图解

高重复感想源的出现意味着定时电子处理速度目前对快速高效数据收集至关重要。DeltaDiode操作达100MHz的能力要求定时电子系统能接受由10ns分离的脉冲这就意味着死时必须相似,传统情况并非如此。

更新电子学,如DeltaHub和FluoroHub-B就是极短死时单元例子图2显示将光子转换成直方图点效率差,不同计数率5MHz

图2停止事件转换直方图计数的差异, 传统时间向放大转换器电子和DeltaHub

从这个图中可以看出,低截停率两种系统非常相似,但高截停率传统系统效率较低,这与其较长死时相关联。

高效数据采集百兆赫兹引用率

荧光生命周期成像可能应用需要快速高效获取数据这使成像性能可移动位置(eg单元格解析)和照片漂白可能成为问题样本上演在此应用中,数据不至于高精度库维特测量目前最长寿命比二分之少,以避免在样本完全衰变前重新引用样本

作为一种模型系统,选择了约380ps的迭代染色率和不同计数率对检测器不同收集时间的影响与恢复寿命值并存的结果见图3,振荡速率为100MHz

图3收率和时间对所得数和存续效果线性匹配显示数据点

可见误差内存值在所有案例都相同因此观察到,在这种样本的这些条件下,脉冲堆积的影响可忽略不计。线性还显示收集过程高效

计时约200计数适配单值衰变10%误差可估计60微秒的数据收集时间应足以模拟单指数衰减测试衰变时见图4

寿命使用变换分析确定并发现与其他测量相容即极快TCSP获取实例并显示技术跟踪短动态过程的能力

图4荧光衰变60微米测量,并配有工具响应和装配功能加权剩余值也给定恢复生平为366

结论

高重复感应源加低死时电子学组合,可快速高效收集时间解密数据这对于显微镜学领域和需要研究快速动态过程领域可能很重要。T级

本注显示结果确认下论文D麦克劳斯基Campbell AAllison和GHungeford,2011年快速时间焦数单发频存取使用100兆赫半导体解析源草原科学文献技术诺尔22 06700

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